John Tukey

John Tukey
Lahir	(1915-06-16)16 Juni 1915 New Bedford, Massachusetts, AS
Meninggal	26 Juli 2000(2000-07-26) (umur 85) New Brunswick, New Jersey, AS
Almamater	Brown University (B.A., M.Sc.) Princeton University (Ph.D.)
Karier ilmiah
Bidang	Matematika
Tempat kerja	Bell Labs Princeton University
Disertasi	On Denumerability in Topology
Pembimbing doktoral	Solomon Lefschetz
Mahasiswa doktoral	Kai Lai Chung Arthur Dempster Leo Goodman Karen Kafadar Paul Meier Frederick Mosteller

John Wilder Tukey (/ˈtuːki/; 16 Juni 1915 – 26 Juli 2000) adalah seorang matematikawan dan ahli statistik Amerika Serikat, terkenal karena pengembangan algoritma Fast Fourier Transform (FFT) dan plot kotak. Uji jangkauan Tukey, distribusi lambda Tukey, uji aditif Tukey, dan lemma Teichmüller–Tukey semuanya menggunakan namanya. Dia juga dikreditkan dengan menciptakan istilah 'bit' dan penggunaan kata perangkat lunak yang pertama kali diterbitkan.

Dari tahun 1960 hingga 1980, Tukey membantu merancang jajak pendapat jaringan televisi NBC yang digunakan untuk memprediksi dan menganalisis pemilu. Dia juga konsultan untuk Educational Testing Service, Xerox Corporation dan Merck & Company.

Dia dianugerahi National Medal of Science oleh Presiden Nixon pada tahun 1973. Dia dianugerahi Medali Kehormatan IEEE pada tahun 1982 "Untuk kontribusinya pada analisis spektral proses acak dan algoritma transformasi Fourier cepat (FFT)".

Tukey pensiun pada tahun 1985. Dia meninggal di New Brunswick, New Jersey, pada tanggal 26 Juli 2000.

Pranala luar

• Royal Society obit. by Peter McCullagh
• John W. Tukey: His Life and Professional Contributions published in The Annals of Statistics
• John Wilder Tukey (1915–2000) in Notices of the American Mathematical Society
• Memories of John Tukey^{[pranala dihapus]}
• Short biography^{[pranala dihapus]} by Mary Bittrich
• "John Tukey, 85, Statistician; Coined the Word 'Software'", The New York Times, Juli 28, 2000{{citation}}: Pemeliharaan CS1: Tanggal diterjemahkan otomatis (link)
• "Remembering John W. Tukey", special issue of Statistical Science